在材料科学研究中，“看见结构”始终是理解性能与机理的前提。尤其在纳米尺度下，材料的宏观性质往往由原子级排列、缺陷分布及局域结构所决定。因此，结构解析技术的能力边界，直接影响新材料研发的效率与深度。近年来，基于电子束的三维电子衍射技术（3DED）逐渐成为纳米晶体结构解析的重要手段，其出现并非简单替代传统方法，而是对既有表征体系的一次补充性重构。一、结构解析的核心问题：从“能否看见”到“如何精确重建”晶体结构解析的目标，是获取以下关键参数：晶胞参数空间群原子坐标占位率与缺陷信息键长、键角及构型这些信息构成材料性质分析与理论建模的基础。但问题在于：不同尺度、不同结晶质量的材料，对表征手段提出了完全不同的要求。二、传统主流方法：X射线衍射 的能力边界1. 原理简述X射线作为电磁波，与晶体中电子云发生相互作用，在满足布拉格条件时产生衍射：构造性干涉 → 衍射峰破坏性干涉 → 强度缺失通过对衍射图谱的反演，可以获得晶体结构信息。