IM3523是日本HIOKI日置生产的LCR测试仪主要用于生产线和自动化测试领域具备高速测量、高精度及多参数测试功能。 核心性能测量频率1MHz至3GHz最快测试时间0.5ms模拟测量 精度阻抗测量±0.05%相位测量±0.03° 参数支持[Z、Y、θ、RsESR、Rp、DCR等11项参数同步测试 尺寸半机架大小测试头手掌大小重量约1.8kg 适用场景适用于高频电路、射频元件的自动化生产线测试可连续测量不同频率条件如120Hz测电容、100kHz测ESR支持混合测量模式下10倍速度测试。 IM3523 是日本日置 HIOKI IM3523 LCR测试仪
IM3523是日本HIOKI日置生产的LCR测试仪主要用于生产线和自动化测试领域具备高速测量、高精度及多参数测试功能。 核心性能测量频率1MHz至3GHz最快测试时间0.5ms模拟测量 精度阻抗测量±0.05%相位测量±0.03° 参数支持[Z、Y、θ、RsESR、Rp、DCR等11项参数同步测试 尺寸半机架大小测试头手掌大小重量约1.8kg 适用场景适用于高频电路、射频元件的自动化生产线测试可连续测量不同频率条件如120Hz测电容、100kHz测ESR支持混合测量模式下10倍速度测试。