esp32开发与应用（内部flash的读写）

【 声明版权所有欢迎转载请勿用于商业用途。 联系信箱feixiaoxing 163.com】对于一些大批量的数据比如音视频这种数据一般是用tf卡进行保存。但是对于一些参数、配置文件或者是算法类的参数这种还是倾向于用esp32内部flash进行保存。今天就来看下对于esp32来说怎么用内部flash进行数据读写。1、还是不用外部信号连接和上一章wifi的测试一样这一章只是内部数据读写不涉及到外部信号读写。2、弄清楚nvs和flashesp的nvs是建立在flash基础之上的。也就是说如果地址不对操作flash的时候有可能误操作nvs的内容。另外flash本身是合封在esp32内部的并不是挂在总线上面这一点的话速度略有差异不过不影响我们使用。3、适用范围大多数情况下nvs的操作已经够我们使用比如开机次数、wifi密码、算法参数、用户自定义配置等等。只有数据稍大但是又没有大到需要外置tf卡的时候才需要flash读取。4、ai编写代码这一次ai编写代码的时候提示我们首先需要修改CMakeLists.txt内容是这样的idf_component_register(SRCS main.c INCLUDE_DIRS . REQUIRES spi_flash nvs_flash)其次就是编写具体的函数内容比如main.c它的内容是这样的#include stdio.h #include string.h #include stdint.h #include freertos/FreeRTOS.h #include freertos/task.h #include esp_log.h #include nvs_flash.h #include esp_flash.h #include esp_system.h // Flash test parameters #define TEST_DATA_SIZE 256 #define TEST_SECTOR_OFFSET 0x180000 // Test sector offset (1.5MB position, after factory app) #define TEST_SECTOR_SIZE 4096 // Flash sector size (4KB) static const char *TAG FLASH_DEMO; // NVS operation example static esp_err_t nvs_test(void) { esp_err_t err; nvs_handle_t my_handle; // Open NVS namespace err nvs_open(storage, NVS_READWRITE, my_handle); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error opening NVS: %s, esp_err_to_name(err)); return err; } // Write data int32_t boot_count 0; err nvs_get_i32(my_handle, boot_count, boot_count); if (err ! ESP_OK err ! ESP_ERR_NVS_NOT_FOUND) { ESP_LOGE(TAG, Error reading NVS: %s, esp_err_to_name(err)); nvs_close(my_handle); return err; } boot_count; ESP_LOGI(TAG, Boot count: %d, boot_count); err nvs_set_i32(my_handle, boot_count, boot_count); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error writing NVS: %s, esp_err_to_name(err)); nvs_close(my_handle); return err; } // Commit write err nvs_commit(my_handle); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error committing NVS: %s, esp_err_to_name(err)); nvs_close(my_handle); return err; } // Write string char test_str[] Hello from NVS!; err nvs_set_str(my_handle, message, test_str); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error writing string to NVS: %s, esp_err_to_name(err)); nvs_close(my_handle); return err; } err nvs_commit(my_handle); // Read string char read_str[32] {0}; size_t len sizeof(read_str); err nvs_get_str(my_handle, message, read_str, len); if (err ESP_OK) { ESP_LOGI(TAG, Read from NVS: %s, read_str); } nvs_close(my_handle); return ESP_OK; } // SPI Flash direct operation example static esp_err_t spi_flash_test(void) { esp_err_t err; uint8_t write_buffer[TEST_DATA_SIZE]; uint8_t read_buffer[TEST_DATA_SIZE]; esp_flash_t *flash_chip (esp_flash_t *)esp_flash_default_chip; // Prepare test data for (int i 0; i TEST_DATA_SIZE; i) { write_buffer[i] i % 256; } // Erase region (sector) ESP_LOGI(TAG, Erasing flash region at offset 0x%x, TEST_SECTOR_OFFSET); err esp_flash_erase_region(flash_chip, TEST_SECTOR_OFFSET, TEST_SECTOR_SIZE); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error erasing flash: %s, esp_err_to_name(err)); return err; } // Write data ESP_LOGI(TAG, Writing %d bytes to flash at offset 0x%x, TEST_DATA_SIZE, TEST_SECTOR_OFFSET); err esp_flash_write(flash_chip, write_buffer, TEST_SECTOR_OFFSET, TEST_DATA_SIZE); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error writing flash: %s, esp_err_to_name(err)); return err; } // Read data ESP_LOGI(TAG, Reading %d bytes from flash at offset 0x%x, TEST_DATA_SIZE, TEST_SECTOR_OFFSET); err esp_flash_read(flash_chip, read_buffer, TEST_SECTOR_OFFSET, TEST_DATA_SIZE); if (err ! ESP_OK) { ESP_LOGE(TAG, Error reading flash: %s, esp_err_to_name(err)); return err; } // Verify data bool data_ok true; for (int i 0; i TEST_DATA_SIZE; i) { if (read_buffer[i] ! write_buffer[i]) { ESP_LOGE(TAG, Data mismatch at offset %d: expected 0x%02x, got 0x%02x, i, write_buffer[i], read_buffer[i]); data_ok false; break; } } if (data_ok) { ESP_LOGI(TAG, SPI Flash read/write test PASSED); } return data_ok ? ESP_OK : ESP_FAIL; } void app_main(void) { // Initialize NVS esp_err_t err nvs_flash_init(); if (err ESP_ERR_NVS_NO_FREE_PAGES || err ESP_ERR_NVS_NEW_VERSION_FOUND) { ESP_ERROR_CHECK(nvs_flash_erase()); err nvs_flash_init(); } ESP_ERROR_CHECK(err); // Test NVS operations ESP_LOGI(TAG, Testing NVS ); nvs_test(); // Test SPI Flash direct operations ESP_LOGI(TAG, Testing SPI Flash ); spi_flash_test(); ESP_LOGI(TAG, Flash demo completed!); }编写过程可能不顺利比如说idf版本不对、缺少库、地址存在错误、测试不通过等等这些都是正常的直接发给ai再来一次就可以了。5、编译、测试和阅读代码前面说过本身代码是否可以顺利编译是非常重要的如果有问题需要直接通知ai修改。只有可以编译、可以执行的代码才值得我们去阅读和修改。编译好了直接烧入看看能不能跑起来有没有错误。有错误的话还是继续发送日志给ai。直到测试全ok为止。最后就是开始阅读代码保存起来下次作为项目代码使用。