如何测量武汉芯景科技日历时钟芯片AT8563的振幅？

文章目录概要实验工具测试电路测试流程测试结果概要测试芯片晶振引脚的振幅是硬件调试中判断时钟是否正常工作的关键步骤。但因为晶振电路对负载极其敏感测量方法不当会导致波形失真、频率偏移甚至停振我们采用武汉芯景科技的日历时钟AT8563芯片配合爱普森的晶振进行测试。本次测试两个批次的芯片丝印分别为AT8563TS2526B、AT8563T2534B。实验工具1.AT85063芯片2.爱普森12.5pf晶振3.普源MSO5074示波器一台4.直流电源一台测试电路测试流程1.按照测试电路连接电路VCC3.3V。2.调节示波器的探头为X10设置为交流耦合。测试结果1.AT8563TS2526B晶振振幅测试结果为487.02mV2.AT8563T2534B晶振振幅测试结果为528.88mV