功率器件 HTGB 和 H3TRB 测试详解(2026 年最新现状))
SiC(碳化硅)功率器件 HTGB 和 H3TRB 测试详解(2026 年最新现状)SiC MOSFET 是目前新能源汽车、光伏、储能、工业驱动等高压应用的核心器件,但其栅氧可靠性和封装耐湿性比 Si 器件更具挑战性。HTGB和H3TRB(含 HV-H3TRB)是 SiC 器件可靠性认证中最关键的两项静态偏置加速寿命测试,直接关系车规级 AEC-Q101 / AQG 324 认证通过与否。1. 为什么 SiC 需要特别重视这两项测试?问题Si 器件SiC 器件测试针对性栅氧质量成熟、缺陷少SiO₂/SiC 界面陷阱多、氧化层缺陷高HTGB(栅氧 TDDB、Vth 漂移、BTI)高压端耐湿性低压为主650V~1700V+,户外/车载易受潮H3TRB / HV-H3TRB(端子腐蚀、钝化层失效、漏电流激增)工作环境较温和高温(175℃+)、高湿、高压/